Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам
Репозиторий электронной библиотеки/Manakin
- Главная страница
- Научная библиотека УдГУ
- Авторефераты
- Просмотр материала
Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам
| dc.contributor.author | Окунев, А. О. | |
| dc.date.accessioned | 2009-03-02T14:53:23Z | |
| dc.date.available | 2009-03-02T14:53:23Z | |
| dc.date.issued | 2009-03-02T14:53:23Z | |
| dc.identifier.uri | http://elibrary.udsu.ru/xmlui/handle/123456789/2955 | |
| dc.language.iso | ru | en |
| dc.title | Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам | en |
| dc.type | Synopsis | en |
Файлы материала
| Имя файла | Размер | Формат | Просмотр |
|---|---|---|---|
| 2009okunev.pdf | 5.860Mb |
|